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Fenêtres en silicium:

Le silicium de qualité optique est généralement caractérisé par une résistivité de 10 à 40 Ohm-cm, supérieure à celle requise pour la plupart des applications semi-conductrices. Le matériau de silicium standard est généralement de qualité Czochralski (Cz), à moins d'indication contraire. Il présente une bande d'absorption à 9 μm, ce qui n'est pas crucial si les fenêtres sont utilisées dans la plage thermique de 3 à 5 μm. Si nécessaire, du silicium de qualité Zone Flottante (FZ) peut être fourni, excluant cette absorption. Pour des applications spéciales, notamment pour les applications THz, un matériau à très haute résistivité (>1000 Ohm*cm) est disponible.


Les fenêtres en silicium (Si) de qualité optique sont appréciées pour leur faible coût et leur faible densité dans la plage spectrale de 1.2 à 7 µm.

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Description
ParamètreSpécification standard
MatériauSilicium de qualité optique (monocristallin ou polycristallin)
Plage de dimension3 ~ 300mm
Tolérance dimensionnelle+/-0.01 ~ +/-0.1mm
Tolérance d'épaisseur+/-0.01 ~ +/-0.1mm
Qualité de surface10-5 ~ 80-50
Planéité1 lambda par 25mm
Ouverture claire

>90%

Parallélisme<3 minutes d'arc
Chanfrein
C 0.3mm@45 degrés
RevêtementAR, DLC etc.
*Remarque : Personnalisation disponible